Oppervlakken dekken alles en gelukkig hebben we met de huidige technologie veel opties om oppervlakken (chemisch, fysiek ... enz.) hydrofoob (moeilijke bevochtiging), hydrofiel (gemakkelijke bevochtiging), antistatisch, antibacterieel of antischimmel, waardoor heterogene katalyse mogelijk wordt, fabricage van halfgeleiderapparatuur en brandstofcellen en zelf-geassembleerde monolagen mogelijk maken... enz. Onze oppervlaktewetenschappers en ingenieurs hebben veel ervaring om u te helpen bij uw ontwerp- en ontwikkelingsinspanningen van componenten, subassemblages en afgewerkte productoppervlakken. We hebben de kennis en ervaring om te bepalen welke technieken we moeten gebruiken om uw specifieke oppervlak te analyseren en aan te passen. Ook beschikken wij over de meest geavanceerde testapparatuur.

​

Oppervlaktechemie kan ruwweg worden gedefinieerd als de studie van chemische reacties op grensvlakken. Oppervlaktechemie is nauw verwant aan oppervlaktetechniek, die tot doel heeft de chemische samenstelling van een oppervlak te wijzigen door geselecteerde elementen of functionele groepen op te nemen die verschillende gewenste en gunstige effecten of verbeteringen in de eigenschappen van het oppervlak of de interface produceren. De hechting van gas- of vloeistofmoleculen aan het oppervlak staat bekend als adsorptie. Dit kan te wijten zijn aan chemisorptie of door fysisorptie. Door oppervlaktechemie op maat te maken, kunnen we betere adsorptie en hechting bereiken. Het gedrag van een op oplossingen gebaseerde interface wordt beïnvloed door de oppervlaktelading, dipolen, energieën en hun verdeling binnen de elektrische dubbellaag. Oppervlaktefysica bestudeert fysieke veranderingen die optreden op grensvlakken en overlapt met oppervlaktechemie. Enkele van de dingen die door de oppervlaktefysica worden onderzocht, zijn oppervlaktediffusie, oppervlaktereconstructie, oppervlaktefononen en -plasmonen, epitaxie en oppervlakteversterkte Raman-verstrooiing, de emissie en tunneling van elektronen, spintronica en de zelfassemblage van nanostructuren op oppervlakken.

​

Onze studie en analyse van oppervlakken omvat zowel fysische als chemische analysetechnieken. Verschillende moderne methoden tasten de bovenste 1-10 nm van de oppervlakken die aan vacuüm zijn blootgesteld af. Deze omvatten röntgenfoto-elektronspectroscopie (XPS), Auger-elektronenspectroscopie (AES), lage-energie-elektronendiffractie (LEED), elektronenenergieverliesspectroscopie (EELS), thermische desorptiespectroscopie (TDS), ionenverstrooiingsspectroscopie (ISS), secundaire ionenmassaspectrometrie (SIMS) en andere oppervlakteanalysemethoden die zijn opgenomen in de lijst met materiaalanalysemethoden. Veel van deze technieken vereisen vacuüm omdat ze afhankelijk zijn van de detectie van elektronen of ionen die worden uitgezonden door het te bestuderen oppervlak. Puur optische technieken kunnen worden gebruikt om interfaces onder een grote verscheidenheid aan omstandigheden te bestuderen. Reflectie-absorptie-infrarood-, oppervlakte-verbeterde Raman- en somfrequentiegeneratiespectroscopieën kunnen worden gebruikt om zowel vast-vacuüm- als vast-gas-, vast-vloeistof- en vloeibaar-gasoppervlakken te onderzoeken. Moderne fysische analysemethoden omvatten scanning-tunneling microscopie (STM) en een familie van methoden die daarvan afstammen. Deze microscopie heeft het vermogen en de wens van oppervlaktewetenschappers om de fysieke structuur van oppervlakken te meten aanzienlijk vergroot.

​

Enkele van de diensten die wij aanbieden voor oppervlakteanalyse, testen, karakterisering en modificatie zijn:

• Testen en karakteriseren van oppervlakken met behulp van een groot aantal chemische, fysische, mechanische, optische technieken (zie onderstaande lijst)

• Modificatie van oppervlakken met behulp van geschikte technieken zoals vlamhydrolyse, plasma-oppervlaktebehandeling, depositie van functionele lagen ... enz.

• Procesontwikkeling voor oppervlakteanalyse, testen, oppervlaktereiniging en modificatie

• Selectie, inkoop, modificatie van oppervlaktereiniging, behandelings- en modificatieapparatuur, proces- en karakteriseringsapparatuur

• Reverse engineering van oppervlakken en interfaces

• Strippen en verwijderen van defecte dunne-filmstructuren en coatings om onderliggende oppervlakken te analyseren om de oorzaak vast te stellen.

• Getuigendeskundigen en procesvoering

• Adviesdiensten

 

We voeren technische werkzaamheden uit op het gebied van oppervlaktemodificatie voor een verscheidenheid aan toepassingen, waaronder:

• Reiniging van oppervlakken en verwijdering van ongewenste onzuiverheden

• Verbetering van de hechting van coatings en substraten

• Oppervlakken hydrofoob of hydrofiel maken

• Oppervlakken antistatisch of statisch maken

• Oppervlakken magnetisch maken

• Toenemende of afnemende oppervlakteruwheid op micro- en nanoschaal.

• Oppervlakken schimmeldodend en antibacterieel maken

• Oppervlakken aanpassen om heterogene katalyse mogelijk te maken

• Oppervlakken en interfaces aanpassen voor reiniging, spanningen verminderen, hechting verbeteren, enz. om de fabricage van meerlagige halfgeleiderapparaten mogelijk te maken, brandstofcellen en zelf-geassembleerde monolagen.

 

Zoals hierboven vermeld, hebben we toegang tot een breed scala aan conventionele en geavanceerde test- en karakteriseringsapparatuur die wordt gebruikt bij materiaalanalyse, inclusief de studie van oppervlakken, interfaces en coatings:

​

• Goniometrie voor contacthoekmetingen op oppervlakken

• Secundaire ionenmassaspectrometrie (SIMS), Time of Flight SIMS (TOF-SIMS)

• Transmissie-elektronenmicroscopie - Scanning-transmissie-elektronenmicroscopie (TEM-STEM)

• Scanning elektronenmicroscopie (SEM)

• Röntgenfoto-elektronspectroscopie – Elektronenspectroscopie voor chemische analyse (XPS-ESCA)

• Spectrofotometrie

• Spectrometrie

• Ellipsometrie

• Spectroscopische Reflectometrie

• Glansmeter

• Interferometrie

• Gelpermeatiechromatografie (GPC)

• Hoge prestatie vloeistofchromatografie (HPLC)

• Gaschromatografie – massaspectrometrie (GC-MS)

• Inductief gekoppelde plasmamassaspectrometrie (ICP-MS)

• Glow Discharge Massaspectrometrie (GDMS)

• Laserablatie Inductief gekoppelde plasmamassaspectrometrie (LA-ICP-MS)

• Vloeistofchromatografie massaspectrometrie (LC-MS)

• Auger-elektronenspectroscopie (AES)

• Energie Dispersieve Spectroscopie (EDS)

• Fourier Transform Infrarood Spectroscopie (FTIR)

• Elektronenenergieverliesspectroscopie (EELS)

• Laagenergetische elektronendiffractie (LEED)

• Inductief gekoppelde plasma-optische emissiespectroscopie (ICP-OES)

• Raman

• Röntgendiffractie (XRD)

• Röntgenfluorescentie (XRF)

• Atoomkrachtmicroscopie (AFM)

• Dubbele straal - gerichte ionenstraal (dubbele straal – FIB)

• Electron Backscatter Diffractie (EBSD)

• optische profilometrie

• Stylus profilometrie

• Microscratch-testen

• Restgasanalyse (RGA) en intern waterdampgehalte

• Instrumentele gasanalyse (IGA)

• Rutherford terugverstrooiing spectrometrie (RBS)

• Totale reflectie röntgenfluorescentie (TXRF)

• Spiegelende röntgenreflectiviteit (XRR)

• Dynamische Mechanische Analyse (DMA)

• Destructieve fysieke analyse (DPA) in overeenstemming met MIL-STD-vereisten

• Differentiële scanningcalorimetrie (DSC)

• Thermogravimetrische analyse (TGA)

• Thermomechanische analyse (TMA)

• Thermische desorptiespectroscopie (TDS)

• Realtime röntgenfoto (RTX)

• Scanning akoestische microscopie (SAM)

• Scanning-tunneling microscopie (STM)

• Tests om elektronische eigenschappen te evalueren

• Bladweerstandsmeting & anisotropie & mapping & homogeniteit

• Geleidbaarheidsmeting

• Fysieke en mechanische tests zoals dunnefilmspanningsmeting

• Andere thermische tests indien nodig

• Milieukamers, verouderingstests