Optische diagnostische en metrologische systemen kunnen voordelen hebben ten opzichte van andere systemen. Optische metrologische systemen kunnen bijvoorbeeld niet-intrusief en niet-destructief van aard zijn, ze kunnen veilig en snel meten. In sommige toepassingen kunnen optische diagnostische en metrologische systemen een ander voordeel bieden, namelijk de mogelijkheid om op afstand te meten zonder dat het testpersoneel moet klimmen of naar een bepaalde locatie moet gaan, wat moeilijk of onmogelijk kan zijn. Een in-situ ellipsometer die in een coatingkamer is geïnstalleerd, is een perfect voorbeeld dat het nut aantoont van een systeem dat realtime coatingdiktes kan meten zonder tussenkomst van het coatingproces. Onze optische ingenieurs hebben optische diagnostiek geïmplementeerd voor een breed scala aan toepassingen en hebben complete turnkey-systemen ontworpen die voldoen aan verschillende behoeften in de metrologie, zoals:

​

• Microfluïdica: deeltjes volgen, snelheid en vorm hiervan meten

• Granulometrie: grootte, vorm en concentratie van korrels meten

• Mobiel High Speed Camera System: Filmen van gebeurtenissen die te snel gaan om met het blote oog te worden waargenomen en begrepen. Films kunnen vervolgens in slow motion worden bekeken voor analyse.

• Digital Video Recorder (DVR)-systeem: compleet systeem voor beeldacquisitie met hardware en software, compatibel met alle hoofdcamera's om van UV tot IR te werken met hoge of lage resolutie en met een reeks beeldsnelheden.  

• Ellipsometersystemen voor in-situ meting van laagdiktes en brekingsindex.

• Laservibrometer

• Laserafstandsmeters

• Fiberscopen & Endoscopen