AGS-Engineering hija ddedikata biex tappoġġja lill-kumpanija tiegħek billi tgħin fid-disinn, l-iżvilupp u d-dokumentazzjoni ta 'Films irqaq u ħoxnin u Kisi. Anki jekk id-definizzjoni ta 'kisi ta' film irqiq u oħxon hija vaga, ġeneralment, kisjiet li huma <1 mikron fil-ħxuna huma kategorizzati bħala film irqiq u kisjiet li huma> 1 mikron ħxuna huma kkunsidrati bħala film oħxon. Films rqaq u ħoxnin huma l-blokki tal-bini tal-livell fundamentali chip tal-biċċa l-kbira tal-komponenti u l-apparati ta’ teknoloġija għolja llum, inklużi mikroċipps, apparat mikroelettroniku semikonduttur, apparat mikroelettromekkaniku (MEMS), ottiku_cc781905-bbd351905-cf563cd , tagħmir għall-ħażna manjetika u kisjiet manjetiċi, kisjiet funzjonali, kisjiet protettivi u oħrajn. Spjegat bejn wieħed u ieħor ħafna, tali apparati jinkisbu billi jiġu depożitati saff wieħed jew multipli ta 'kisi fuq sottostrati u disinn tal-kisi bl-użu ta' sistemi u proċessi fotolitografiċi bħal eching. By depositing films irqaq fuq ċerti reġjuni u selettivament inċiżjoni xi reġjuni, iċ-ċirkwiti ta 'apparat mikroelettroniku huma miksuba. It-teknoloġija tal-film irqiq tippermettilna niffabbrikaw biljuni ta’ transistors fuq sottostrati ċkejkna bi preċiżjoni u preċiżjoni nanometrika u livell aqwa ta’ ripetibbiltà fi żmien qasir.

 

THIN FILM & COATINGS KONSULENZA, DISINN U ŻVILUPP

Films irqaq għandhom proprjetajiet li jiddevjaw mill-materjali bl-ingrossa tagħhom, u għalhekk huwa qasam li jeħtieġ esperjenza diretta fil-qasam. Billi tifhem il-proprjetajiet u l-imġieba ta 'films irqaq u kisi, tista' toħloq meraviljużi fil-prodotti u n-negozju tiegħek. Iż-żieda ta 'saffi irqaq li huma ġeneralment inqas minn 1 mikron tista' tbiddel sostanzjalment mhux biss id-dehra iżda wkoll l-imġiba u l-funzjonalità tal-uċuħ. Kisi ta 'film irqiq jista' jkun saff wieħed kif ukoll saffi b'ħafna skond l-applikazzjoni. Is-servizzi tagħna ta’ konsulenza, disinn u żvilupp f’films irqaq u kisi huma:

​

• Konsulenza, disinn, żvilupp ta 'kisi ottiku wieħed u b'ħafna saffi, kisjiet anti-riflessjoni (AR), rifletturi għolja (HR), filtri bandpass (BP), filtri talja (bandpass dejqa), filtri WDM, filtri li jċattw il-qligħ, beamsplitters, mirja kesħin (CM ), mirja sħan (HM), filtri u mirja tal-kulur, korreturi tal-kulur, filtri tat-tarf (EF), polarizzaturi, kisjiet bil-lejżer, kisjiet UV & EUV u x-ray, rugati. Aħna nużaw softwer avvanzat bħal Optilayer u Zemax OpticStudio għad-disinn u s-simulazzjoni.

• Konsulenza, disinn u żvilupp ta’ firxa ta’ nanometri preċiżi ħafna, films irqaq mingħajr pinhole u totalment konformi fuq kwalunkwe forma u ġeometrija bl-użu ta’ CVD, ALD, MVD, PVD, Fluoropolimeri, UV-Cure, Nano-kisi, Kisi Mediku, Siġġillanti, Kisi u oħrajn.

• Permezz tal-bini ta 'strutturi kumplessi ta' film irqiq, noħolqu strutturi b'ħafna materjali bħal strutturi 3D, munzelli ta 'saffi b'ħafna,.... eċċ.

• Żvilupp tal-proċess u ottimizzazzjoni għal film irqiq u depożizzjoni tal-kisi, inċiżjoni, ipproċessar

• Disinn u żvilupp ta' pjattaformi u ħardwer tal-kisi ta' film irqiq, inklużi sistemi awtomatizzati. Għandna esperjenza kemm f'sistemi ta 'produzzjoni ta' lott kif ukoll f'sistemi ta 'volum għoli.

• Ittestjar u karatterizzazzjoni ta 'kisi ta' film irqiq bl-użu ta 'firxa wiesgħa ta' tagħmir tat-test analitiku avvanzat li jkejjel proprjetajiet u speċifikazzjonijiet kimiċi, mekkaniċi, fiżiċi, elettroniċi, ottiċi.

• Analiżi tal-kawża ta 'l-għeruq ta' strutturi u kisjiet ta 'film irqiq falluti. Tqaxxir u tneħħija ta 'strutturi u kisjiet ta' film irqiq falluti biex janalizzaw l-uċuħ sottostanti biex jiddeterminaw il-kawża ewlenija.

• Inġinerija inversa

• Xhud espert u appoġġ għal litigazzjoni

 

 

FILM ĦOXIN & KISI KONSULTAZZJONI, DISINN U ŻVILUPP

Il-kisi tal-film oħxon huwa eħxen u > 1 mikron ħoxnin. Fil-fatt jistgħu jkunu ħafna eħxen u fil-medda 25-75µm ħoxnin jew aktar. Is-servizzi ta’ konsulenza, disinn u żvilupp tagħna f’films ħoxnin u kisi huma:

​

• Kisjiet conformal tat-tip ta 'film oħxon huma kisjiet kimiċi protettivi jew films tal-polimer tipikament ħxuna ta' madwar 50 mikron li 'jikkonformaw' mat-topoloġija tal-bord taċ-ċirkwit. L-għan tiegħu huwa li jipproteġi ċirkwiti elettroniċi minn ambjenti ħarxa li jista 'jkun fihom umdità, trab u/jew kontaminanti kimiċi. Billi tkun elettrikament iżolanti, iżżomm livelli ta 'reżistenza għall-insulazzjoni tal-wiċċ (SIR) fit-tul u b'hekk tiżgura l-integrità operattiva tal-assemblaġġ. Kisjiet konformi jipprovdu wkoll ostaklu għall-kontaminanti li jinġarru mill-arja mill-ambjent, bħall-melħ, u b'hekk jipprevjenu l-korrużjoni. Noffru konsultazzjoni, disinn u żvilupp ta 'Konformal Coatings bl-użu ta' CVD, ALD, MVD, PVD, Fluoropolymers, UV-Cure, Nano-coatings, Medical Coatings, Sealants, Trab Kisi, Kisi u oħrajn.

• Disinn u żvilupp ta 'pjattaformi ta' kisi ta 'film oħxon u ħardwer, inklużi sistemi awtomatizzati. Għandna esperjenza kemm f'sistemi ta 'produzzjoni ta' lott kif ukoll f'sistemi ta 'volum għoli.

• Ittestjar u karatterizzazzjoni ta 'kisi ta' film oħxon bl-użu ta 'firxa wiesgħa ta' tagħmir tat-test ta 'preċiżjoni għolja

• Analiżi tal-kawża ta 'l-għeruq ta' strutturi u kisjiet ta 'film irqiq falluti

• Inġinerija inversa

• Xhud espert u appoġġ għal litigazzjoni

• Servizzi ta' konsulenza

 

​

ITTESTJAR U KARATTERIZZAZZJONI TAL-KISI TA ' FILM IRQQA U ĦOXNA

Għandna aċċess għal numru kbir ta 'tagħmir avvanzat ta' ttestjar u karatterizzazzjoni użat fuq films irqaq u ħoxnin:

• Spettrometrija tal-Massa tal-Ion Sekondarja (SIMS), SIMS tal-Ħin tat-Titjira (TOF-SIMS)

• Mikroskopija Elettroniċi ta' Trażmissjoni – Mikroskopija Elettronika ta' Trażmissjoni ta' Skannjar (TEM-STEM)

• Mikroskopija Elettronika tal-Iskanjar (SEM)

• Spettroskopija tal-fotoelettroni tar-raġġi X – Spettroskopija tal-elettroni għall-analiżi Kimika (XPS-ESCA)

• Spettrofotometrija

• Spettrometrija

• Ellipsometrija

• Riflettometrija Spettroskopika

• Glossmeter

• Interferometrija

• Kromatografija ta' Permeazzjoni tal-Ġell (GPC)

• Kromatografija Likwida ta' Prestazzjoni Għolja (HPLC)

• Kromatografija tal-Gass – Spettrometrija tal-Massa (GC-MS)

• Spettrometrija tal-Massa tal-Plażma Akkoppjata Induttivament (ICP-MS)

• Spettrometrija tal-Massa Glow Discharge (GDMS)

• Ablation bil-lejżer Spettrometrija tal-Massa tal-Plażma Akkoppjata Induttivament (LA-ICP-MS)

• Spettrometrija tal-Massa tal-Kromatografija Likwida (LC-MS)

• Auger Electron Spectroscopy (AES)

• Spettroskopija Dispersiva tal-Enerġija (EDS)

• Spettroskopija Infrared tat-Trasformata ta' Fourier (FTIR)

• Spettroskopija ta' Telf ta' Enerġija Elettroniċi (EELS)

• Spettroskopija ta' Emissjoni Ottika tal-Plażma Akkoppjata Induttivament (ICP-OES)

• Raman

• Diffrazzjoni tar-Raġġi X (XRD)

• Fluworexxenza tar-Raġġi X (XRF)

• Mikroskopija tal-Forza Atomika (AFM)

• Raġġ Doppju - Raġġ Ioniku Iffukat (Raġġ Doppju – FIB)

• Diffrazzjoni ta' l-Electron Backscatter (EBSD)

• Profilometrija Ottika

• Profilometrija tal-istilus

• Ittestjar Microscratch

• Analiżi tal-Gass Residwu (RGA) & Kontenut Intern tal-Fwar tal-Ilma

• Analiżi Strumentali tal-Gass (IGA)

• Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS)

• Fluworexxenza tar-Raġġi X ta' Riflessjoni Totali (TXRF)

• Riflettività Spekulari tar-Raġġi X (XRR)

• Analiżi Mekkanika Dinamika (DMA)

• Analiżi Fiżika Distruttiva (DPA) konformi mar-rekwiżiti MIL-STD

• Kalorimetrija ta' Skennjar Differenzjali (DSC)

• Analiżi Termogravimetrika (TGA)

• Analiżi Termomekkanika (TMA)

• Raġġi X f'ħin reali (RTX)

• Mikroskopija Akustika tal-Iskanjar (SAM)

• Testijiet biex jevalwaw il-proprjetajiet elettroniċi

• Kejl tar-Reżistenza tal-Folji & Anisotropija & Mapping & Omoġeneità

• Kejl tal-konduttività

• Testijiet Fiżiċi u Mekkaniċi bħal Kejl tal-Istress tal-Film Irqiq

• Testijiet Termali Oħra Kif Meħtieġa

• Kmamar Ambjentali, Testijiet ta' Tixjiħ

 

Biex issir taf dwar il-kapaċitajiet tagħna ta 'depożizzjoni u pproċessar tal-kisi tal-film irqiq u oħxon, jekk jogħġbok żur is-sit tal-manifattura tagħnahttp://www.agstech.net