Sistem diagnostik dan metrologi optik boleh mempunyai kelebihan berbanding sistem lain. Sebagai contoh sistem metrologi optik boleh bersifat tidak mengganggu dan tidak merosakkan, ia boleh mengukur dengan selamat dan cepat. Dalam sesetengah aplikasi sistem diagnostik dan metrologi optik boleh menawarkan kelebihan lain, iaitu keupayaan mengukur dari jarak tanpa kakitangan ujian untuk mendaki atau pergi ke lokasi tertentu, yang mungkin sukar atau mustahil. Ellipsometer in-situ yang dipasang di dalam ruang salutan ialah contoh sempurna yang menunjukkan kegunaan sistem yang boleh mengukur ketebalan salutan masa nyata tanpa campur tangan ke dalam proses salutan. Jurutera optik kami telah melaksanakan diagnostik optik untuk pelbagai jenis aplikasi dan telah mereka bentuk sistem turnkey lengkap yang sesuai dengan keperluan yang berbeza dalam metrologi, seperti:

​

• Mikrobendalir: Mengesan zarah, mengukur halaju dan bentuk ini

• Granulometrik: Mengukur saiz, bentuk dan kepekatan butiran

• Sistem Kamera Berkelajuan Tinggi Mudah Alih: Penggambaran peristiwa yang terlalu pantas untuk diperhatikan dan difahami dengan mata kasar. Filem kemudiannya boleh ditonton dalam gerakan perlahan untuk analisis.

• Sistem Perakam Video Digital (DVR): Sistem lengkap untuk pemerolehan imej dengan perkakasan dan perisian, serasi dengan semua kamera utama untuk berfungsi dari UV ke IR dengan resolusi tinggi atau rendah dan pada julat kadar bingkai.  

• Sistem elipsometer untuk pengukuran in-situ ketebalan salutan dan indeks biasan.

• Vibrometer Laser

• Pencari Jarak Laser

• Fiberskop & Endoskop