Sistem diagnostik dan metrologi optik dapat memiliki keunggulan dibandingkan sistem lain. Misalnya sistem metrologi optik dapat bersifat non-intrusif dan non-destruktif, mereka dapat mengukur dengan aman dan cepat. Dalam beberapa aplikasi, diagnostik optik dan sistem metrologi dapat menawarkan keuntungan lain, yaitu kemampuan mengukur dari jarak jauh tanpa personel penguji untuk mendaki atau pergi ke lokasi tertentu, yang mungkin sulit atau tidak mungkin. Ellipsometer in-situ yang dipasang di dalam ruang pelapis adalah contoh sempurna yang menunjukkan kegunaan sistem yang dapat mengukur ketebalan lapisan secara real-time tanpa intervensi ke dalam proses pelapisan. Teknisi optik kami telah menerapkan diagnostik optik untuk berbagai macam aplikasi dan telah merancang sistem turnkey lengkap yang sesuai dengan kebutuhan yang berbeda dalam metrologi, seperti:

​

• Mikrofluida: Melacak partikel, mengukur kecepatan dan bentuk partikel ini

• Granulometrik: Mengukur ukuran, bentuk dan konsentrasi butiran

• Sistem Kamera Kecepatan Tinggi Seluler: Memfilmkan peristiwa yang terlalu cepat untuk diamati dan dipahami dengan mata telanjang. Film kemudian dapat ditonton dalam gerakan lambat untuk dianalisis.

• Sistem Perekam Video Digital (DVR): Sistem lengkap untuk akuisisi gambar dengan perangkat keras dan perangkat lunak, kompatibel dengan semua kamera utama untuk bekerja dari UV ke IR dengan resolusi tinggi atau rendah dan pada kisaran kecepatan bingkai.  

• Sistem elipsometer untuk pengukuran ketebalan lapisan dan indeks bias in-situ.

• Vibrometer Laser

• Pengukur Jarak Laser

• Fiberscope & Endoskopi