Površine pokrivaju sve i na sreću s današnjom tehnologijom imamo mnogo opcija za tretiranje površina (kemijski, fizički… itd.) i modificiranje na koristan način, sa željenim rezultatima uključujući poboljšanje prianjanja premaza ili komponenti na površine, modificiranje površine za izradu površina hidrofobni (otežano vlaženje), hidrofilni (lako vlaženje), antistatički, antibakterijski ili antifungalni, omogućujući heterogenu katalizu, čineći mogućom izradu poluvodičkih uređaja & gorivih ćelija & samosastavljenih monoslojeva...itd. Naši površinski znanstvenici i inženjeri imaju veliko iskustvo da vam pomognu u projektiranju i razvoju površina komponenti, podsklopova i gotovih proizvoda. Imamo znanje i iskustvo da odredimo koje tehnike koristiti za analizu i modifikaciju vaše određene površine. Također imamo pristup najnaprednijoj opremi za testiranje.

​

Površinska kemija može se grubo definirati kao proučavanje kemijskih reakcija na sučeljima. Površinska kemija usko je povezana s površinskim inženjeringom, čiji je cilj modificiranje kemijskog sastava površine ugradnjom odabranih elemenata ili funkcionalnih skupina koje proizvode različite željene i korisne učinke ili poboljšanja svojstava površine ili sučelja. Prianjanje molekula plina ili tekućine na površinu poznato je kao adsorpcija. To može biti zbog kemisorpcije ili fiziosorpcije. Prilagodbom kemije površine možemo postići bolju adsorpciju i prianjanje. Na ponašanje sučelja temeljenog na rješenju utječu površinski naboj, dipoli, energije i njihova raspodjela unutar dvostrukog električnog sloja. Površinska fizika proučava fizičke promjene koje se događaju na sučeljima i preklapaju se s površinskom kemijom. Neke od stvari koje istražuje površinska fizika uključuju površinsku difuziju, površinsku rekonstrukciju, površinske fonone i plazmone, epitaksiju i površinski poboljšano Ramanovo raspršenje, emisiju i tuneliranje elektrona, spintroniku i samosastavljanje nanostruktura na površinama.

​

Naše proučavanje i analiza površina uključuje tehnike fizičke i kemijske analize. Nekoliko suvremenih metoda ispituje najviših 1–10 nm površine izložene vakuumu. To uključuje rendgensku fotoelektronsku spektroskopiju (XPS), Augerovu elektronsku spektroskopiju (AES), niskoenergetsku difrakciju elektrona (LEED), spektroskopiju gubitka energije elektrona (EELS), spektroskopiju toplinske desorpcije (TDS), spektroskopiju raspršenja iona (ISS), sekundarnu ionsku masenu spektrometriju (SIMS) i druge metode analize površine uključene u popis metoda analize materijala. Mnoge od ovih tehnika zahtijevaju vakuum jer se oslanjaju na detekciju elektrona ili iona emitiranih s površine koja se proučava. Čisto optičke tehnike mogu se koristiti za proučavanje sučelja u raznim uvjetima. Refleksijsko-apsorpcijska infracrvena spektroskopija, površinski pojačana Ramanova spektroskopija i spektroskopija sumarne frekvencije mogu se koristiti za ispitivanje površina čvrstog vakuuma, kao i površina čvrstog plina, čvrstog tekućine i tekućeg plina. Suvremene fizikalne metode analize uključuju skenirajuću tunelsku mikroskopiju (STM) i obitelj metoda koje proizlaze iz nje. Ove su mikroskopije znatno povećale sposobnost i želju površinskih znanstvenika da mjere fizičku strukturu površina.

​

Neke od usluga koje nudimo za površinsku analizu, ispitivanje, karakterizaciju i modifikaciju su:

• Ispitivanje i karakterizacija površina korištenjem velikog broja kemijskih, fizikalnih, mehaničkih i optičkih tehnika (pogledajte donji popis)

• Modifikacija površina korištenjem odgovarajućih tehnika kao što je plamena hidroliza, obrada površine plazmom, nanošenje funkcionalnih slojeva… itd.

• Razvoj procesa za površinsku analizu, ispitivanje, čišćenje i modificiranje površine

• Odabir, nabava, modifikacija opreme za čišćenje površina, treatment i modifikacije opreme, opreme za proces i karakterizaciju

• Obrnuti inženjering površina i sučelja

• Skidanje i uklanjanje pokvarenih tankoslojnih struktura i premaza za analizu donjih površina radi utvrđivanja temeljnog uzroka.

• Usluge vještaka i vođenja parnica

• Konzultantske usluge

 

Izvodimo inženjerske radove na modifikaciji površine za razne primjene, uključujući:

• Čišćenje površina i uklanjanje neželjenih nečistoća

• Poboljšanje prianjanja premaza i podloga

• Izrada površina hidrofobnim ili hidrofilnim

• Izrada površina antistatičnim ili statičnim

• Izrada magnetskih površina

• Povećanje ili smanjenje hrapavosti površine na mikro i nano skalama.

• Izrada površina antifungalnim i antibakterijskim

• Modificiranje površina kako bi se omogućila heterogena kataliza

• Modificiranje površina i sučelja za čišćenje, ublažavanje naprezanja, poboljšanje prianjanja… itd. kako bi se omogućila proizvodnja višeslojnih poluvodičkih uređaja, gorivih ćelija i samosastavljenih monoslojeva.

 

Kao što je gore spomenuto, imamo pristup širokom rasponu konvencionalne i napredne opreme za ispitivanje i karakterizaciju koja se koristi u analizi materijala uključujući proučavanje površina, sučelja i premaza:

​

• Goniometrija za mjerenje kontaktnog kuta na površinama

• Sekundarna ionska spektrometrija mase (SIMS), vrijeme leta SIMS (TOF-SIMS)

• Transmisijska elektronska mikroskopija – skenirajuća transmisijska elektronska mikroskopija (TEM-STEM)

• Skenirajuća elektronska mikroskopija (SEM)

• X-zraka fotoelektronska spektroskopija – elektronska spektroskopija za kemijsku analizu (XPS-ESCA)

• Spektrofotometrija

• Spektrometrija

• Elipsometrija

• Spektroskopska reflektometrija

• Mjerač sjaja

• Interferometrija

• Gel permeacijska kromatografija (GPC)

• Tekuća kromatografija visoke učinkovitosti (HPLC)

• Plinska kromatografija – spektrometrija mase (GC-MS)

• Masena spektrometrija induktivno spregnute plazme (ICP-MS)

• Masena spektrometrija s tinjajućim pražnjenjem (GDMS)

• Laserska ablacija induktivno spregnute plazme masene spektrometrije (LA-ICP-MS)

• Masena spektrometrija tekućinske kromatografije (LC-MS)

• Augerova elektronska spektroskopija (AES)

• Energy Dispersion Spectroscopy (EDS)

• Infracrvena spektroskopija Fourierove transformacije (FTIR)

• Spektroskopija gubitka energije elektrona (EELS)

• Difrakcija elektrona niske energije (LEED)

• Spektroskopija optičke emisije induktivno spregnute plazme (ICP-OES)

• Raman

• X-zraka difrakcija (XRD)

• X-zraka fluorescencija (XRF)

• Mikroskopija atomske sile (AFM)

• Dual Beam - Fokusirana ionska zraka (Dual Beam – FIB)

• Difrakcija povratnog raspršenja elektrona (EBSD)

• Optička profilometrija

• Stylus Profilometrija

• Ispitivanje mikroogrebotinama

• Analiza zaostalog plina (RGA) i unutarnji sadržaj vodene pare

• Instrumentalna analiza plina (IGA)

• Rutherfordova spektrometrija povratnog raspršenja (RBS)

• Totalna refleksija rendgenske fluorescencije (TXRF)

• Specularna rendgenska refleksija (XRR)

• Dinamička mehanička analiza (DMA)

• Destruktivna fizikalna analiza (DPA) u skladu sa zahtjevima MIL-STD

• Diferencijalna skenirajuća kalorimetrija (DSC)

• Termogravimetrijska analiza (TGA)

• Termomehanička analiza (TMA)

• Termička desorpcijska spektroskopija (TDS)

• Rendgen u stvarnom vremenu (RTX)

• Skenirajuća akustična mikroskopija (SAM)

• Skenirajuća tunelska mikroskopija (STM)

• Testovi za procjenu elektroničkih svojstava

• Mjerenje otpora ploče & Anizotropija & Mapiranje & Homogenost

• Mjerenje vodljivosti

• Fizička i mehanička ispitivanja kao što je mjerenje naprezanja tankog filma

• Ostali toplinski testovi po potrebi

• Komore za zaštitu okoliša, testovi starenja