سطوح همه چیز را می پوشانند و خوشبختانه با فناوری امروزی ما گزینه های زیادی برای درمان سطوح (شیمیایی، فیزیکی و غیره) و اصلاح آن به روشی مفید، با نتایج مطلوب از جمله افزایش چسبندگی پوشش ها یا اجزاء به سطوح، اصلاح سطح برای ساخت سطوح داریم. آبگریز (تر شدن سخت)، آب دوست (تر شدن آسان)، آنتی استاتیک، ضد باکتری یا ضد قارچ، امکان کاتالیز ناهمگن، ساخت دستگاه نیمه هادی و سلول های سوختی و تک لایه های خود مونتاژ شده را امکان پذیر می کند... دانشمندان و مهندسان سطح ما برای کمک به شما در طراحی و تلاش‌های توسعه قطعات، قطعات فرعی و سطوح محصول نهایی به شما کمک می‌کنند. ما دانش و تجربه ای داریم که تعیین کنیم از کدام تکنیک ها برای تجزیه و تحلیل و اصلاح سطح خاص شما استفاده کنیم. ما همچنین به پیشرفته ترین تجهیزات تست دسترسی داریم.

​

شیمی سطح را می توان تقریباً به عنوان مطالعه واکنش های شیمیایی در سطح مشترک تعریف کرد. شیمی سطح ارتباط نزدیکی با مهندسی سطح دارد که هدف آن اصلاح ترکیب شیمیایی یک سطح با ترکیب عناصر یا گروه‌های عملکردی انتخاب شده است که اثرات مطلوب و مفید یا بهبود خواص سطح یا سطح مشترک را ایجاد می‌کنند. چسبندگی مولکول های گاز یا مایع به سطح به عنوان جذب شناخته می شود. این می تواند به دلیل جذب شیمیایی یا جذب فیزیکی باشد. با خیاطی شیمی سطح، می توانیم به جذب و چسبندگی بهتری دست یابیم. رفتار یک رابط مبتنی بر محلول تحت تأثیر بار سطحی، دوقطبی ها، انرژی ها و توزیع آنها در لایه دوگانه الکتریکی است. فیزیک سطح تغییرات فیزیکی را که در رابط‌ها رخ می‌دهد و با شیمی سطح همپوشانی دارد، مطالعه می‌کند. برخی از مواردی که توسط فیزیک سطح مورد بررسی قرار گرفته‌اند شامل انتشار سطح، بازسازی سطح، فونون‌ها و پلاسمون‌های سطحی، اپیتاکسی و پراکندگی رامان تقویت‌شده سطحی، گسیل و تونل‌زنی الکترون‌ها، اسپینترونیک و خودآرایی نانوساختارها بر روی سطوح است.

​

مطالعه و تجزیه و تحلیل ما از سطوح شامل تکنیک های تجزیه و تحلیل فیزیکی و شیمیایی است. چندین روش مدرن، بالاترین 1-10 نانومتر از سطوح در معرض خلاء را بررسی می کنند. اینها شامل طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS)، طیف‌سنجی الکترونی اوگر (AES)، پراش الکترونی کم انرژی (LEED)، طیف‌سنجی از دست دادن انرژی الکترون (EELS)، طیف‌سنجی دفع حرارتی (TDS)، طیف‌سنجی پراکندگی یونی (ISS)، ثانویه است. طیف سنجی جرمی یونی (SIMS) و سایر روش های آنالیز سطحی که در فهرست روش های آنالیز مواد گنجانده شده است. بسیاری از این تکنیک ها به خلاء نیاز دارند زیرا بر تشخیص الکترون ها یا یون های ساطع شده از سطح مورد مطالعه تکیه دارند. تکنیک های صرفاً نوری را می توان برای مطالعه واسط ها تحت شرایط مختلف استفاده کرد. طیف‌سنجی‌های مادون قرمز با جذب بازتاب، رامان افزایش‌یافته و طیف‌سنجی مجموع فرکانس را می‌توان برای کاوش سطوح جامد-خلاء و همچنین سطوح گاز جامد، جامد-مایع و مایع-گاز استفاده کرد. روش های مدرن تجزیه و تحلیل فیزیکی شامل میکروسکوپ روبشی-تونل زنی (STM) و خانواده ای از روش های برگرفته از آن است. این میکروسکوپ ها توانایی و تمایل دانشمندان سطح را برای اندازه گیری ساختار فیزیکی سطوح به میزان قابل توجهی افزایش داده اند.

​

برخی از خدماتی که ما برای تجزیه و تحلیل سطح، آزمایش، خصوصیات و اصلاح ارائه می دهیم عبارتند از:

• آزمایش و خصوصیات سطوح با استفاده از تعداد زیادی تکنیک شیمیایی، فیزیکی، مکانیکی، نوری (لیست زیر را ببینید)

• اصلاح سطوح با استفاده از تکنیک های مناسب مانند هیدرولیز شعله، عملیات سطحی پلاسما، رسوب گذاری لایه های عملکردی و ....

• توسعه فرآیند برای تجزیه و تحلیل سطح، آزمایش، تمیز کردن و اصلاح سطح

• انتخاب، تهیه، اصلاح تمیز کردن سطح، تجهیزات درمان و اصلاح، تجهیزات فرآیند و خصوصیات

• مهندسی معکوس سطوح و رابط ها

• جداسازی و حذف ساختارها و پوشش های لایه نازک شکست خورده برای تجزیه و تحلیل سطوح زیرین برای تعیین علت اصلی.

• خدمات شاهد کارشناس و دعاوی

• خدمات مشاوره

 

ما کارهای مهندسی را بر روی اصلاح سطح برای کاربردهای مختلف انجام می دهیم، از جمله:

• تمیز کردن سطوح و از بین بردن آلودگی های ناخواسته

• بهبود چسبندگی پوشش ها و بسترها

• ساخت سطوح آبگریز یا آبدوست

• ساخت سطوح آنتی استاتیک یا استاتیک

• مغناطیسی ساختن سطوح

• افزایش یا کاهش زبری سطح در مقیاس های میکرو و نانو.

• ساخت سطوح ضد قارچ و ضد باکتری

• اصلاح سطوح برای فعال کردن کاتالیز ناهمگن

• اصلاح سطوح و رابط ها برای تمیز کردن، کاهش تنش ها، بهبود چسبندگی و غیره. برای امکان ساخت دستگاه های نیمه هادی چند لایه، سلول های سوختی و تک لایه های خود مونتاژ شده امکان پذیر شود.

 

همانطور که در بالا ذکر شد، ما به طیف گسترده ای از تجهیزات آزمایشی و خصوصیات معمول و پیشرفته دسترسی داریم که در تجزیه و تحلیل مواد از جمله مطالعه سطوح، رابط ها و پوشش ها استفاده می شود:

​

• گونیومتری برای اندازه گیری زاویه تماس روی سطوح

• طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)، سیم کارت زمان پرواز (TOF-SIMS)

• میکروسکوپ الکترونی انتقالی – میکروسکوپ الکترونی انتقالی اسکن (TEM-STEM)

• میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)

• طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس - طیف سنجی الکترونی برای تجزیه و تحلیل شیمیایی (XPS-ESCA)

• اسپکتروفتومتری

• طیف سنجی

• بیضی سنجی

• بازتاب سنجی طیف سنجی

• براق سنج

• تداخل سنجی

• کروماتوگرافی نفوذ ژل (GPC)

• کروماتوگرافی مایع با کارایی بالا (HPLC)

• کروماتوگرافی گازی - طیف سنجی جرمی (GC-MS)

• طیف سنجی جرمی پلاسمای جفت القایی (ICP-MS)

• طیف سنجی جرمی تخلیه تابشی (GDMS)

• لیزر ابلیشن طیف سنجی جرمی پلاسمای جفت القایی (LA-ICP-MS)

• طیف سنجی جرمی کروماتوگرافی مایع (LC-MS)

• طیف سنجی الکترونی اوگر (AES)

• طیف‌سنجی پراکنده انرژی (EDS)

• طیف‌سنجی فروسرخ تبدیل فوریه (FTIR)

• طیف‌سنجی اتلاف انرژی الکترونی (EELS)

• پراش الکترون کم انرژی (LEED)

• طیف سنجی انتشار نوری پلاسمای جفت القایی (ICP-OES)

• رامان

• پراش اشعه ایکس (XRD)

• فلورسانس اشعه ایکس (XRF)

• میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

• پرتو دوگانه - پرتو یون متمرکز (پرتو دوگانه - FIB)

• پراش الکترونی پس پراکنده (EBSD)

• پروفیلومتری نوری

• پروفیلومتری قلم

• تست میکرو خراش

• تجزیه و تحلیل گاز باقیمانده (RGA) و محتوای بخار آب داخلی

• تجزیه و تحلیل گاز ابزاری (IGA)

• طیف سنجی پس پراکندگی رادرفورد (RBS)

• انعکاس کامل فلورسانس اشعه ایکس (TXRF)

• انعکاس پرتو ایکس دوربینی (XRR)

• تجزیه و تحلیل مکانیکی دینامیکی (DMA)

• تجزیه و تحلیل فیزیکی مخرب (DPA) مطابق با الزامات MIL-STD

• کالریمتری اسکن تفاضلی (DSC)

• تجزیه و تحلیل حرارتی (TGA)

• تجزیه و تحلیل حرارتی مکانیکی (TMA)

• طیف‌سنجی دفع حرارتی (TDS)

• اشعه ایکس بلادرنگ (RTX)

• میکروسکوپ آکوستیک اسکن (SAM)

• میکروسکوپ روبشی-تونل زنی (STM)

• تست هایی برای ارزیابی خواص الکترونیکی

• اندازه گیری مقاومت ورق و ناهمسانگردی و نقشه برداری و همگنی

• اندازه گیری رسانایی

• تست های فیزیکی و مکانیکی مانند اندازه گیری استرس لایه نازک

• سایر آزمایشات حرارتی در صورت نیاز

• اتاق های محیطی، تست های پیری