Optilistel diagnostika- ja metroloogiasüsteemidel võib olla teiste süsteemide ees eeliseid. Näiteks võivad optilised metroloogiasüsteemid olla mittepealetükkivad ja mittepurustavad, neid saab mõõta ohutult ja kiiresti. Mõnes rakenduses võivad optilised diagnostika- ja metroloogiasüsteemid pakkuda veel üht eelist, nimelt võimalust mõõta distantsilt, ilma et katsepersonal roniks või läheks konkreetsesse kohta, mis võib olla keeruline või võimatu. Katmiskambrisse paigaldatud in situ ellipsomeeter on suurepärane näide, mis näitab süsteemi kasulikkust, mis suudab mõõta katte paksust reaalajas ilma katmisprotsessi sekkumata. Meie optikainsenerid on rakendanud optilist diagnostikat mitmesuguste rakenduste jaoks ja loonud terviklikud käivitusvalmis süsteemid, mis vastavad metroloogia erinevatele vajadustele, näiteks:

​

• Mikrofluidika: osakeste jälgimine, nende kiiruse ja kuju mõõtmine

• Granulomeetria: graanulite suuruse, kuju ja kontsentratsiooni mõõtmine

• Mobiilne kiirkaamerasüsteem: sündmuste filmimine, mis on liiga kiired, et neid palja silmaga jälgida ja mõista. Seejärel saab filme analüüsimiseks aegluubis vaadata.

• Digitaalse videosalvesti (DVR) süsteem: täielik süsteem piltide kogumiseks koos riist- ja tarkvaraga, mis ühildub kõigi peamiste kaameratega, et töötada UV-lt IR-ni kõrge või madala eraldusvõimega ja erinevate kaadrisagedustega.  

• Ellipsomeetrisüsteemid pinnakatte paksuse ja murdumisnäitaja kohapealseks mõõtmiseks.

• Laser vibromeeter

• Laserkaugusmõõdikud

• Fiberskoobid ja endoskoobid