Οι επιφάνειες καλύπτουν τα πάντα και ευτυχώς με τη σημερινή τεχνολογία έχουμε πολλές επιλογές για να επεξεργαστούμε επιφάνειες (χημικά, φυσικά... κ.λπ.) και να τις τροποποιήσουμε με χρήσιμο τρόπο, με επιθυμητά αποτελέσματα όπως ενίσχυση της πρόσφυσης επιστρώσεων ή εξαρτημάτων σε επιφάνειες, τροποποίηση επιφάνειας για την κατασκευή επιφανειών υδρόφοβη (δύσκολη διαβροχή), υδρόφιλη (εύκολη διαβροχή), αντιστατική, αντιβακτηριακή ή αντιμυκητιακή, επιτρέποντας ετερογενή κατάλυση, καθιστώντας δυνατή την κατασκευή συσκευών ημιαγωγών & κυψελών καυσίμου & αυτοσυναρμολογούμενων μονοστοιβάδων... κ.λπ. Οι επιστήμονες επιφανειών και οι μηχανικοί μας είναι άρτια έμπειροι για να σας βοηθήσουν στις προσπάθειες σχεδιασμού και ανάπτυξης των επιφανειών εξαρτημάτων, υποσυναρμολόγησης και τελικών προϊόντων. Έχουμε τη γνώση και την εμπειρία για να καθορίσουμε ποιες τεχνικές θα χρησιμοποιήσουμε για να αναλύσουμε και να τροποποιήσουμε τη συγκεκριμένη επιφάνεια σας. Έχουμε επίσης πρόσβαση στον πιο προηγμένο εξοπλισμό δοκιμών.

​

Η χημεία επιφανειών μπορεί να οριστεί χονδρικά ως η μελέτη των χημικών αντιδράσεων σε διεπαφές. Η χημεία επιφανειών σχετίζεται στενά με τη μηχανική επιφανειών, η οποία στοχεύει στην τροποποίηση της χημικής σύνθεσης μιας επιφάνειας ενσωματώνοντας επιλεγμένα στοιχεία ή λειτουργικές ομάδες που παράγουν διάφορα επιθυμητά και ευεργετικά αποτελέσματα ή βελτιώσεις στις ιδιότητες της επιφάνειας ή της διεπαφής. Η προσκόλληση μορίων αερίου ή υγρού στην επιφάνεια είναι γνωστή ως προσρόφηση. Αυτό μπορεί να οφείλεται είτε σε χημική απορρόφηση είτε σε φυσικορρόφηση. Προσαρμόζοντας τη χημεία της επιφάνειας, μπορούμε να επιτύχουμε καλύτερη προσρόφηση και πρόσφυση. Η συμπεριφορά μιας διεπαφής που βασίζεται σε λύση επηρεάζεται από το επιφανειακό φορτίο, τα δίπολα, τις ενέργειες και την κατανομή τους εντός του ηλεκτρικού διπλού στρώματος. Η φυσική της επιφάνειας μελετά τις φυσικές αλλαγές που συμβαίνουν στις διεπαφές και επικαλύπτονται με τη χημεία της επιφάνειας. Μερικά από τα πράγματα που διερευνήθηκαν από την επιφανειακή φυσική περιλαμβάνουν τη διάχυση επιφανειών, την ανακατασκευή επιφανειών, τα φωνόνια και τα πλασμόνια επιφάνειας, την επιταξία και την ενισχυμένη επιφανειακή σκέδαση Raman, την εκπομπή και τη δημιουργία σήραγγας ηλεκτρονίων, τη σπιντρονική και την αυτοσυναρμολόγηση νανοδομών σε επιφάνειες.

​

Η μελέτη και η ανάλυσή μας των επιφανειών περιλαμβάνει τεχνικές φυσικής και χημικής ανάλυσης. Αρκετές σύγχρονες μέθοδοι ανιχνεύουν το ανώτατο 1–10 nm των επιφανειών που εκτίθενται στο κενό. Αυτές περιλαμβάνουν φασματοσκοπία φωτοηλεκτρονίων ακτίνων Χ (XPS), φασματοσκοπία ηλεκτρονίων Auger (AES), περίθλαση ηλεκτρονίων χαμηλής ενέργειας (LEED), φασματοσκοπία απώλειας ενέργειας ηλεκτρονίων (EELS), φασματοσκοπία θερμικής εκρόφησης (TDS), φασματοσκοπία σκέδασης ιόντων (ISS), δευτερογενής φασματομετρία μάζας ιόντων (SIMS) και άλλες μεθόδους ανάλυσης επιφάνειας που περιλαμβάνονται στον κατάλογο των μεθόδων ανάλυσης υλικών. Πολλές από αυτές τις τεχνικές απαιτούν κενό καθώς βασίζονται στην ανίχνευση ηλεκτρονίων ή ιόντων που εκπέμπονται από την υπό μελέτη επιφάνεια. Οι καθαρά οπτικές τεχνικές μπορούν να χρησιμοποιηθούν για τη μελέτη διεπαφών κάτω από μια μεγάλη ποικιλία συνθηκών. Οι φασματοσκοπίες υπέρυθρης απορρόφησης ανάκλασης, Raman ενισχυμένης επιφάνειας και φασματοσκοπίες παραγωγής αθροιστικών συχνοτήτων μπορούν να χρησιμοποιηθούν για την ανίχνευση επιφανειών στερεού κενού καθώς και επιφανειών στερεού αερίου, στερεού-υγρού και υγρού αερίου. Οι σύγχρονες μέθοδοι φυσικής ανάλυσης περιλαμβάνουν τη μικροσκοπία σάρωσης-σήραγγας (STM) και μια οικογένεια μεθόδων που προέρχονται από αυτήν. Αυτά τα μικροσκόπια έχουν αυξήσει σημαντικά την ικανότητα και την επιθυμία των επιστημόνων της επιφάνειας να μετρούν τη φυσική δομή των επιφανειών.

​

Μερικές από τις υπηρεσίες που προσφέρουμε για ανάλυση επιφάνειας, δοκιμή, χαρακτηρισμό και τροποποίηση είναι:

• Δοκιμή και χαρακτηρισμός επιφανειών με χρήση μεγάλου αριθμού χημικών, φυσικών, μηχανικών, οπτικών τεχνικών (δείτε την παρακάτω λίστα)

• Τροποποίηση επιφανειών με χρήση κατάλληλων τεχνικών όπως υδρόλυση φλόγας, επεξεργασία επιφάνειας πλάσματος, εναπόθεση λειτουργικών στρωμάτων… κ.λπ.

• Ανάπτυξη διεργασιών για ανάλυση επιφανειών, δοκιμές, καθαρισμό και τροποποίηση επιφανειών

• Επιλογή, προμήθεια, τροποποίηση καθαρισμού επιφανειών, εξοπλισμός επεξεργασίας και τροποποίησης, εξοπλισμός διεργασίας και χαρακτηρισμού

• Αντίστροφη μηχανική επιφανειών και διεπαφών

• Απογύμνωση και αφαίρεση αποτυχημένων δομών και επικαλύψεων λεπτής μεμβράνης για την ανάλυση των υποκείμενων επιφανειών για τον προσδιορισμό της βασικής αιτίας.

• Υπηρεσίες πραγματογνώμονα και δικαστικές υποθέσεις

• Συμβουλευτικές υπηρεσίες

 

Πραγματοποιούμε μηχανολογικές εργασίες τροποποίησης επιφάνειας για ποικίλες εφαρμογές, όπως:

• Καθαρισμός επιφανειών και αποβολή ανεπιθύμητων ακαθαρσιών

• Βελτίωση πρόσφυσης επιστρώσεων και υποστρωμάτων

• Κάνοντας τις επιφάνειες υδρόφοβες ή υδρόφιλες

• Κάνοντας τις επιφάνειες αντιστατικές ή στατικές

• Κάνοντας τις επιφάνειες μαγνητικές

• Αύξηση ή μείωση της τραχύτητας της επιφάνειας σε μικρο και νανο κλίμακες.

• Κάνοντας τις επιφάνειες αντιμυκητιακές και αντιβακτηριδιακές

• Τροποποίηση επιφανειών για να καταστεί δυνατή η ετερογενής κατάλυση

• Τροποποίηση επιφανειών και διεπαφών για καθαρισμό, ανακούφιση από καταπονήσεις, βελτίωση της πρόσφυσης... κ.λπ. για να καταστεί δυνατή η κατασκευή πολυστρωματικών συσκευών ημιαγωγών, οι κυψέλες καυσίμου και οι αυτοσυναρμολογούμενες μονοστρώσεις.

 

Όπως αναφέρθηκε παραπάνω, έχουμε πρόσβαση σε ένα ευρύ φάσμα συμβατικού και προηγμένου εξοπλισμού δοκιμής και χαρακτηρισμού που χρησιμοποιείται στην ανάλυση υλικών, συμπεριλαμβανομένης της μελέτης επιφανειών, διεπαφών και επιστρώσεων:

​

• Γωνιομετρία για μετρήσεις γωνίας επαφής σε επιφάνειες

• Δευτερεύουσα Φασματομετρία Μάζας Ιόντων (SIMS), Χρόνος πτήσης SIMS (TOF-SIMS)

• Ηλεκτρονική μικροσκοπία μετάδοσης – Ηλεκτρονική μικροσκοπία μετάδοσης σάρωσης (TEM-STEM)

• Ηλεκτρονική μικροσκοπία σάρωσης (SEM)

• Φασματοσκοπία φωτοηλεκτρονίου ακτίνων Χ – Φασματοσκοπία ηλεκτρονίων για χημική ανάλυση (XPS-ESCA)

• Φασματοφωτομετρία

• Φασματομετρία

• Ελλειψομετρία

• Φασματοσκοπική Ανακλαστικότητα

• Γλωσσόμετρο

• Συμβολομετρία

• Χρωματογραφία διείσδυσης γέλης (GPC)

• Υγρή Χρωματογραφία Υψηλής Απόδοσης (HPLC)

• Αέρια Χρωματογραφία – Φασματομετρία Μάζας (GC-MS)

• Φασματομετρία μάζας επαγωγικά συζευγμένου πλάσματος (ICP-MS)

• Φασματομετρία μάζας εκκένωσης λάμψης (GDMS)

• Φασματομετρία μάζας επαγωγικά συζευγμένου πλάσματος κατάλυσης με λέιζερ (LA-ICP-MS)

• Φασματομετρία μάζας υγρής χρωματογραφίας (LC-MS)

• Φασματοσκοπία ηλεκτρονίων Auger (AES)

• Φασματοσκοπία Διασποράς Ενέργειας (EDS)

• Φασματοσκοπία υπερύθρων μετασχηματισμού Fourier (FTIR)

• Φασματοσκοπία απώλειας ενέργειας ηλεκτρονίων (EELS)

• Περίθλαση ηλεκτρονίων χαμηλής ενέργειας (LEED)

• Επαγωγική σύζευξη φασματοσκοπίας οπτικής εκπομπής πλάσματος (ICP-OES)

• Raman

• Περίθλαση ακτίνων Χ (XRD)

• Φθορισμός ακτίνων Χ (XRF)

• Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης (AFM)

• Dual Beam - Focused Ion Beam (Dual Beam – FIB)

• Περίθλαση οπισθοσκέδασης ηλεκτρονίων (EBSD)

• Οπτική Προφιλομετρία

• Προφιλομετρία γραφίδας

• Δοκιμή μικρογρατσουνιών

• Ανάλυση Υπολειμματικών Αερίων (RGA) & Εσωτερική Περιεκτικότητα σε Υδρατμούς

• Instrumental Gas Analysis (IGA)

• Φασματομετρία οπισθοσκέδασης Rutherford (RBS)

• Ολική ανάκλαση φθορισμού ακτίνων Χ (TXRF)

• Κατοπτρική ανακλαστικότητα ακτίνων Χ (XRR)

• Δυναμική Μηχανική Ανάλυση (DMA)

• Καταστροφική φυσική ανάλυση (DPA) συμβατή με τις απαιτήσεις MIL-STD

• Διαφορική θερμιδομετρία σάρωσης (DSC)

• Θερμοβαρυμετρική Ανάλυση (TGA)

• Θερμομηχανική Ανάλυση (TMA)

• Φασματοσκοπία θερμικής εκρόφησης (TDS)

• Ακτινογραφία σε πραγματικό χρόνο (RTX)

• Ακουστική μικροσκοπία σάρωσης (SAM)

• Μικροσκόπιο σάρωσης-σήραγγας (STM)

• Δοκιμές για την αξιολόγηση των ηλεκτρονικών ιδιοτήτων

• Μέτρηση Αντίστασης Φύλλων & Ανισοτροπία & Χαρτογράφηση & Ομοιογένεια

• Μέτρηση Αγωγιμότητας

• Φυσικές και μηχανικές δοκιμές όπως η μέτρηση πίεσης λεπτής μεμβράνης

• Άλλες θερμικές δοκιμές όπως απαιτείται

• Περιβαλλοντικοί Θάλαμοι, Δοκιμές Γήρανσης