Optické diagnostické a metrologické systémy mohou mít oproti jiným systémům výhody. Například optické metrologické systémy mohou být nerušivé a nedestruktivní povahy, mohou měřit bezpečně a rychle. V některých aplikacích mohou optické diagnostické a metrologické systémy nabídnout další výhodu, a to schopnost měřit na dálku, aniž by zkušební personál šplhal nebo šel na určité místo, což může být obtížné nebo nemožné. Elipsometr in-situ instalovaný uvnitř povlakovací komory je dokonalým příkladem demonstrujícím užitečnost systému, který dokáže měřit tloušťku povlaku v reálném čase bez zásahu do procesu povlakování. Naši optičtí inženýři implementovali optickou diagnostiku pro širokou škálu aplikací a navrhli kompletní systémy na klíč, které odpovídají různým potřebám v metrologii, jako jsou:

​

• Mikrofluidika: Sledování částic, měření jejich rychlosti a tvaru

• Granulometrie: Měření velikosti, tvaru a koncentrace granulí

• Mobilní vysokorychlostní kamerový systém: Natáčení událostí, které jsou příliš rychlé na to, aby je bylo možné pozorovat a pochopit pouhým okem. Filmy pak lze pro analýzu sledovat zpomaleně.

• Systém digitálního videorekordéru (DVR): Kompletní systém pro pořizování obrazu s hardwarem a softwarem, kompatibilní se všemi hlavními kamerami pro práci od UV po IR s vysokým nebo nízkým rozlišením a při různých frekvencích snímků.  

• Elipsometrické systémy pro in-situ měření tloušťky povlaku a indexu lomu.

• Laserový vibrometr

• Laserové dálkoměry

• Fibroskopy a endoskopy