AGS-Engineering is toegewyd om jou maatskappy te ondersteun deur te help met die ontwerp, ontwikkeling en dokumentasie van dun en dik films en bedekkings. Alhoewel die definisie van dun en dik filmbedekkings vaag is, word oor die algemeen gesproke bedekkings wat <1 mikron dik is gekategoriseer as dun film en bedekkings wat >1 mikron dik is, word as dik film beskou. Dun en dik films is die fundamentele chip-vlak boustene van die meeste hoëtegnologie-komponente en toestelle vandag, insluitend mikroskyfies, halfgeleier mikro-elektroniese toestelle, mikro-elektromeganiese toestelle (MEMS), optical_cc781990b-8c1905b-31b-31b-31b-31b-31b-31b-8c781900-31b-8c781901b-31b-31b-31b-31b-31b-31b-31b-31b-35b-31b-31b-31b-31b-31b-31b-31b-31b-8c781905b , magnetiese bergingstoestelle en magnetiese bedekkings, funksionele bedekkings, beskermende bedekkings en ander. Baie rofweg verduidelik, word sulke toestelle verkry deur een of veelvuldige lae bedekkings op substrate te deponeer en die bedekkings in patrone te vorm deur fotolitografiese stelsels en prosesse soos egging te gebruik. Deur deponeer dun films op sekere streke en selektief ets van sommige streke, word die stroombane van mikro-elektroniese toestelle verkry. Dunfilmtegnologie stel ons in staat om biljoene transistors op klein substrate te vervaardig met nanometriese akkuraatheid en akkuraatheid en ongelooflike vlak van herhaalbaarheid binne 'n kort tyd.

 

DUN FILM & COATINGS RAADPLEGING, ONTWERP EN ONTWIKKELING

Dun films het eienskappe wat afwyk van hul grootmaatmateriaal, en daarom is dit 'n area wat direkte ervaring in die veld vereis. Deur die eienskappe en gedrag van dun films en bedekkings te verstaan, kan jy wonders in jou produkte en besigheid skep. Deur dun lae by te voeg wat gewoonlik minder as 1 mikron is, kan jy nie net die voorkoms nie, maar ook die gedrag en funksionaliteit van oppervlaktes aansienlik verander. Dun filmbedekkings kan enkellaag sowel as multilae wees, afhangende van die toepassing. Ons konsultasie-, ontwerp- en ontwikkelingsdienste in dun films en bedekkings is:

​

• Konsultasie, ontwerp, ontwikkeling van enkel- en meerlaag optiese bedekkings, antirefleksie (AR) bedekkings, hoë reflektors (HR), banddeurlaatfilters (BP), kerffilters (smal banddeurlaat), WDM filters, versterkingsafplattingsfilters, straalverdelers, koue spieëls (CM) ), warm spieëls (HM), kleurfilters en spieëls, kleurkorrigeerders, randfilters (EF), polariseerders, laserbedekkings, UV & EUV en x-straalbedekkings, rugates. Ons gebruik gevorderde sagteware soos Optilayer en Zemax OpticStudio vir ontwerp en simulasie.

• Raadpleging, ontwerp en ontwikkeling van baie presiese nanometerreeks, speldegatvrye en heeltemal konforme dun films op enige vorm en geometrie deur gebruik te maak van CVD, ALD, MVD, PVD, Fluoropolimere, UV-Cure, Nano-bedekkings, Mediese Bedekkings, Seëlmiddels, Platering en ander.

• Deur die bou van komplekse dun film strukture, skep ons multimateriaal strukture soos 3D strukture, stapels multilae, .... ens.

• Prosesontwikkeling en optimalisering vir dunfilm- en bedekkingafsetting, ets, verwerking

• Ontwerp en ontwikkeling van dunfilmbedekkingsplatforms en hardeware, insluitend outomatiese stelsels. Ons het ondervinding in beide bondel produksie stelsels sowel as hoë volume stelsels.

• Toets en karakterisering van dunfilmbedekkings met 'n wye reeks gevorderde analitiese toetstoerusting wat chemiese, meganiese, fisiese, elektroniese, optiese eienskappe en spesifikasies meet.

• Oorsaakontleding van mislukte dunfilmstrukture en -bedekkings. Stroping en verwydering van mislukte dunfilmstrukture en bedekkings om onderliggende oppervlaktes te ontleed om die oorsaak te bepaal.

• Omgekeerde ingenieurswese

• Deskundige getuie en litigasie ondersteuning

 

 

DIK FILM & COATINGS RAADPLEGING, ONTWERP EN ONTWIKKELING

Dik filmbedekkings is dikker en > 1 mikron dik. Hulle kan in werklikheid baie dikker wees en in die reeks 25-75µm dik of meer wees. Ons konsultasie-, ontwerp- en ontwikkelingsdienste in dik films en coatings is:

​

• Dikfilmtipe konforme bedekkings is beskermende chemiese bedekkings of polimeerfilms tipies ongeveer 50 mikron dik wat 'konform' aan die stroombaantopologie. Die doel daarvan is om elektroniese stroombane te beskerm teen moeilike omgewings wat vog, stof en/of chemiese kontaminante kan bevat. Deur elektries te isoleer, handhaaf dit langtermyn oppervlak-isolasieweerstand (SIR) vlakke en verseker dus die operasionele integriteit van die samestelling. Konforme bedekkings bied ook 'n versperring teen luggedraagde kontaminante uit die omgewing, soos soutsproei, om sodoende korrosie te voorkom. Ons bied konsultasie, ontwerp en ontwikkeling van konforme bedekkings deur gebruik te maak van CVD, ALD, MVD, PVD, Fluoropolimere, UV-Cure, Nano-bedekkings, mediese bedekkings, seëlmiddels, poeierbedekkings, platering en ander.

• Ontwerp en ontwikkeling van dik film coating platforms en hardeware, insluitend outomatiese stelsels. Ons het ondervinding in beide bondel produksie stelsels sowel as hoë volume stelsels.

• Toets en karakterisering van dik filmbedekkings met 'n wye reeks hoë-presisie toetstoerusting

• Oorsaakontleding van mislukte dunfilmstrukture en -bedekkings

• Omgekeerde ingenieurswese

• Deskundige getuie en litigasie ondersteuning

• Konsultasie dienste

 

​

DUN EN DIK FILMBEDELINGS TOETS EN KARAKTERISERING

Ons het toegang tot 'n groot aantal gevorderde toets- en karakteriseringstoerusting wat op dun en dik films gebruik word:

• Sekondêre Ioonmassaspektrometrie (SIMS), Tyd van Vlug SIMS (TOF-SIMS)

• Transmissie-elektronmikroskopie – Skandeertransmissie-elektronmikroskopie (TEM-STEM)

• Skandeerelektronmikroskopie (SEM)

• X-straalfoto-elektronspektroskopie – Elektronspektroskopie vir chemiese analise (XPS-ESCA)

• Spektrofotometrie

• Spektrometrie

• Ellipsometrie

• Spektroskopiese Reflektometrie

• Glansmeter

• Interferometrie

• Gelpermeasiechromatografie (GPC)

• Hoëprestasie vloeistofchromatografie (HPLC)

• Gaschromatografie – Massaspektrometrie (GC-MS)

• Induktief gekoppelde plasmamassaspektrometrie (ICP-MS)

• Gloeiontladingsmassaspektrometrie (GDMS)

• Laser Ablasie Induktief Gekoppelde Plasma Massaspektrometrie (LA-ICP-MS)

• Vloeistofchromatografie massaspektrometrie (LC-MS)

• Auger-elektronspektroskopie (AES)

• Energieverspreidende spektroskopie (EDS)

• Fourier Transform Infrarooi Spektroskopie (FTIR)

• Elektronenergieverliesspektroskopie (EELS)

• Induktief gekoppelde plasma optiese emissie spektroskopie (ICP-OES)

• Raman

• X-straaldiffraksie (XRD)

• X-straalfluoressensie (XRF)

• Atoomkragmikroskopie (AFM)

• Dubbele straal - gefokusde ioonstraal (dubbele straal - FIB)

• Elektron-terugstrooi-diffraksie (EBSD)

• Optiese Profielometrie

• Stylus-profielometrie

• Mikrokrastoetsing

• Residuele gasanalise (RGA) & interne waterdampinhoud

• Instrumentele gasanalise (IGA)

• Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS)

• Totale Refleksie X-straalfluoressensie (TXRF)

• Spekulêre X-straalreflektiwiteit (XRR)

• Dinamiese Meganiese Analise (DMA)

• Destruktiewe Fisiese Analise (DPA) voldoen aan MIL-STD vereistes

• Differensiële skanderingkalorimetrie (DSC)

• Termogravimetriese analise (TGA)

• Termomeganiese analise (TMA)

• Intydse X-straal (RTX)

• Skandeer-akoestiese mikroskopie (SAM)

• Toetse om elektroniese eienskappe te evalueer

• Bladweerstandmeting & Anisotropie & Kartering & Homogeniteit

• Geleidingsmeting

• Fisiese en meganiese toetse soos dunfilmstresmeting

• Ander termiese toetse soos benodig

• Omgewingskamers, Verouderingstoetse

 

Om uit te vind oor ons dun- en dikfilmbedekkingafsetting en verwerkingsvermoëns, besoek asseblief ons vervaardigingswerfhttp://www.agstech.net