Oppervlaktes bedek alles en gelukkig het ons met vandag se tegnologie baie opsies om oppervlaktes (chemies, fisies ... ens.) te behandel en dit op 'n nuttige manier te verander, met gewenste uitkomste, insluitend verbetering van adhesie van coatings of komponente aan oppervlaktes, oppervlakmodifikasie vir die maak van oppervlaktes hidrofobies (moeilike benatting), hidrofilies (maklike benatting), antistaties, antibakteriese of antifungale, wat heterogene katalise moontlik maak, wat vervaardiging van halfgeleiertoestelle & brandstofselle & self-gemonteerde monolae moontlik maak ... ens. Ons oppervlakwetenskaplikes en ingenieurs is goed ervare om jou te help met jou ontwerp- en ontwikkelingspogings van komponent-, subsamestelling en voltooide produkoppervlaktes. Ons het die kennis en ervaring om te bepaal watter tegnieke om te gebruik om jou spesifieke oppervlak te ontleed en te verander. Ons het ook toegang tot die mees gevorderde toetstoerusting.

​

Oppervlakchemie kan rofweg gedefinieer word as die studie van chemiese reaksies by raakvlakke. Oppervlakchemie is nou verwant aan oppervlakingenieurswese, wat daarop gemik is om die chemiese samestelling van 'n oppervlak te wysig deur geselekteerde elemente of funksionele groepe in te sluit wat verskeie gewenste en voordelige effekte of verbeterings in die eienskappe van die oppervlak of koppelvlak produseer. Die adhesie van gas- of vloeistofmolekules aan die oppervlak staan bekend as adsorpsie. Dit kan as gevolg van óf chemisorpsie óf deur fisisorpsie wees. Deur oppervlakchemie aan te pas, kan ons beter adsorpsie en adhesie verkry. Die gedrag van 'n oplossingsgebaseerde koppelvlak word beïnvloed deur die oppervlaklading, dipole, energieë en hul verspreiding binne die elektriese dubbellaag. Oppervlakfisika bestudeer fisiese veranderinge wat by koppelvlakke voorkom, en oorvleuel met oppervlakchemie. Sommige van die dinge wat deur oppervlakfisika ondersoek word, sluit in oppervlakdiffusie, oppervlakrekonstruksie, oppervlakfonone en plasmone, epitaksie en oppervlakversterkte Raman-verstrooiing, die emissie en tonnelvorming van elektrone, spintronika en die selfsamestelling van nanostrukture op oppervlaktes.

​

Ons studie en ontleding van oppervlaktes behels beide fisiese en chemiese ontledingstegnieke. Verskeie moderne metodes ondersoek die boonste 1–10 nm van die oppervlaktes wat aan vakuum blootgestel is. Dit sluit in X-straalfoto-elektronspektroskopie (XPS), Auger-elektronspektroskopie (AES), lae-energie elektrondiffraksie (LEED), elektronenergieverliesspektroskopie (EELS), termiese desorpsiespektroskopie (TDS), ioonverstrooispektroskopie (ISS), sekondêre ioonmassaspektrometrie (SIMS), en ander oppervlakanalisemetodes wat in die lys van materiaalontledingsmetodes ingesluit is. Baie van hierdie tegnieke vereis vakuum aangesien hulle staatmaak op die opsporing van elektrone of ione wat van die oppervlak wat bestudeer word vrygestel word. Suiwer optiese tegnieke kan gebruik word om koppelvlakke onder 'n wye verskeidenheid toestande te bestudeer. Refleksie-absorpsie infrarooi, oppervlak verbeterde Raman, en som frekwensie generering spektroskopies kan gebruik word om vastestof-vakuum sowel as vastestof-gas, vastestof-vloeistof en vloeistof-gas oppervlaktes te ondersoek. Moderne fisiese ontledingsmetodes sluit in skandering-tonnelmikroskopie (STM) en 'n familie metodes wat daarvan afstam. Hierdie mikroskopies het die vermoë en begeerte van oppervlakwetenskaplikes aansienlik verhoog om die fisiese struktuur van oppervlaktes te meet.

​

Sommige van die dienste wat ons bied vir oppervlakontleding, toetsing, karakterisering en modifikasie is:

• Toets en karakterisering van oppervlaktes deur 'n groot aantal chemiese, fisiese, meganiese, optiese tegnieke te gebruik (sien die lys hieronder)

• Modifikasie van oppervlaktes deur gebruik te maak van geskikte tegnieke soos vlamhidrolise, plasma-oppervlakbehandeling, afsetting van funksionele lae... ens.

• Prosesontwikkeling vir oppervlakontleding, toetsing, oppervlakskoonmaak en modifikasie

• Seleksie, verkryging, modifikasie van oppervlakskoonmaak, behandeling en modifikasie toerusting, proses en karakterisering toerusting

• Omgekeerde ingenieurswese van oppervlaktes en koppelvlakke

• Stroping en verwydering van mislukte dunfilmstrukture en bedekkings om onderliggende oppervlaktes te ontleed om die oorsaak te bepaal.

• Deskundige getuie- en litigasiedienste

• Konsultasie dienste

 

Ons doen ingenieurswerk op oppervlakmodifikasie vir 'n verskeidenheid toepassings, insluitend:

• Skoonmaak van oppervlaktes en uitskakeling van ongewenste onsuiwerhede

• Verbetering van adhesie van bedekkings en substrate

• Om oppervlaktes hidrofobies of hidrofiel te maak

• Maak oppervlaktes antistaties of staties

• Maak oppervlaktes magneties

• Verhoging of vermindering van oppervlakruwheid op mikro- en nanoskale.

• Maak oppervlaktes antifungies en antibakteries

• Verandering van oppervlaktes om heterogene katalise moontlik te maak

• Verandering van oppervlaktes en koppelvlakke om skoon te maak, spanning te verlig, adhesie te verbeter ... ens. om meerlaag halfgeleier-toestelvervaardiging moontlik te maak, brandstofselle en self-gemonteerde monolae moontlik te maak.

 

Soos hierbo genoem, het ons toegang tot 'n wye reeks konvensionele en gevorderde toets- en karakteriseringstoerusting wat in materiaalontleding gebruik word, insluitend die studie van oppervlaktes, koppelvlakke en bedekkings:

​

• Goniometrie vir kontakhoekmetings op oppervlaktes

• Sekondêre Ioonmassaspektrometrie (SIMS), Tyd van Vlug SIMS (TOF-SIMS)

• Transmissie-elektronmikroskopie – Skandeertransmissie-elektronmikroskopie (TEM-STEM)

• Skandeerelektronmikroskopie (SEM)

• X-straalfoto-elektronspektroskopie – Elektronspektroskopie vir chemiese analise (XPS-ESCA)

• Spektrofotometrie

• Spektrometrie

• Ellipsometrie

• Spektroskopiese Reflektometrie

• Glansmeter

• Interferometrie

• Gelpermeasiechromatografie (GPC)

• Hoëprestasie vloeistofchromatografie (HPLC)

• Gaschromatografie – Massaspektrometrie (GC-MS)

• Induktief gekoppelde plasmamassaspektrometrie (ICP-MS)

• Gloeiontladingsmassaspektrometrie (GDMS)

• Laser Ablasie Induktief Gekoppelde Plasma Massaspektrometrie (LA-ICP-MS)

• Vloeistofchromatografie massaspektrometrie (LC-MS)

• Auger-elektronspektroskopie (AES)

• Energieverspreidende spektroskopie (EDS)

• Fourier Transform Infrarooi Spektroskopie (FTIR)

• Elektronenergieverliesspektroskopie (EELS)

• Lae-energie elektron diffraksie (LEED)

• Induktief gekoppelde plasma optiese emissie spektroskopie (ICP-OES)

• Raman

• X-straaldiffraksie (XRD)

• X-straalfluoressensie (XRF)

• Atoomkragmikroskopie (AFM)

• Dubbele straal - gefokusde ioonstraal (dubbele straal - FIB)

• Elektron-terugstrooi-diffraksie (EBSD)

• Optiese Profielometrie

• Stylus-profielometrie

• Mikrokrastoetsing

• Residuele gasanalise (RGA) & interne waterdampinhoud

• Instrumentele gasanalise (IGA)

• Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS)

• Totale Refleksie X-straalfluoressensie (TXRF)

• Spekulêre X-straalreflektiwiteit (XRR)

• Dinamiese Meganiese Analise (DMA)

• Destruktiewe Fisiese Analise (DPA) voldoen aan MIL-STD vereistes

• Differensiële skanderingkalorimetrie (DSC)

• Termogravimetriese analise (TGA)

• Termomeganiese analise (TMA)

• Termiese desorpsiespektroskopie (TDS)

• Intydse X-straal (RTX)

• Skandeer-akoestiese mikroskopie (SAM)

• Skandeertonnelmikroskopie (STM)

• Toetse om elektroniese eienskappe te evalueer

• Bladweerstandmeting & Anisotropie & Kartering & Homogeniteit

• Geleidingsmeting

• Fisiese en meganiese toetse soos dunfilmstresmeting

• Ander termiese toetse soos benodig

• Omgewingskamers, Verouderingstoetse