Optiese diagnostiese en metrologiestelsels kan voordele bo ander stelsels inhou. Optiese metrologiestelsels kan byvoorbeeld nie-indringend en nie-vernietigend van aard wees, hulle kan veilig en vinnig meet. In sommige toepassings kan optiese diagnostiese en metrologiestelsels nog 'n voordeel bied, naamlik die vermoë om van 'n afstand af te meet sonder dat die toetspersoneel kan klim of na 'n spesifieke plek gaan, wat moeilik of onmoontlik kan wees. 'n In-situ ellipsometer wat binne 'n bedekkingskamer geïnstalleer is, is 'n perfekte voorbeeld wat die bruikbaarheid van 'n stelsel demonstreer wat bedekkingsdiktes intyds kan meet sonder ingryping in die bedekkingsproses. Ons optiese ingenieurs het optiese diagnostiek vir 'n wye verskeidenheid toepassings geïmplementeer en het volledige sleutelstelsels ontwerp wat ooreenstem met verskillende behoeftes in metrologie, soos:

​

• Mikrofluidika: Volg deeltjies, meet snelheid en vorm hiervan

• Granulometrie: Meet grootte, vorm en konsentrasie van korrels

• Mobiele hoëspoedkamerastelsel: Verfilming van gebeure wat te vinnig is om met die blote oog waargeneem en verstaan te word. Rolprente kan dan in stadige aksie gekyk word vir ontleding.

• Digitale video-opnemer (DVR)-stelsel: Volledige stelsel vir beeldverkryging met hardeware en sagteware, versoenbaar met alle hoofkameras om van UV tot IR te werk met hoë of lae resolusie en teen 'n reeks raamtempo's.  

• Ellipsometerstelsels vir in-situ meting van laagdiktes en brekingsindeks.

• Laser Vibrometer

• Laserafstandmeters

• Veselskope en endoskope